La espectroscopia de doble frecuencia en peine que utiliza generadores de peine electro-ópticos son la herramienta actual más exacta para la medida de frecuencias láser y destaca por su flexibilidad, fácil implementación y bajo costo.

Desde su invención, los interferómetros de doble peine se han implementado utilizando diferentes tipos de peine, los cuales se han convertido en una tecnología innovadora en una variedad de aplicaciones, como la espectroscopia de precisión, el rango de distancia y las telecomunicaciones, por nombrar sólo algunas.

Típicamente, se generan dos peines con diferente espaciado de líneas a partir de un láser común utilizando generadores de peine electro-ópticos independientes. Este enfoque reduce al mínimo el impacto del ruido de la fase láser; sin embargo, los distintos caminos seguidos por los dos peines limitan en última instancia la relación señal-ruido alcanzable y la estabilidad a largo plazo del sistema.
En este trabajo, se genera un espectrógrafo de doble frecuencia en peine, pero utilizando un único modulador impulsado por un generador de forma de onda arbitraria, lo que permite un notable aumento de la estabilidad del sistema (hasta 0,8 s de tiempo de integración), manteniendo al mismo tiempo una gran flexibilidad.

Este esquema simplificado permite la implementación de un espectrómetro de un brazo capaz de medir firmas espectrales finas (como el espectro de ganancia de la dispersión de Brillouin estimulada) con miles de puntos y un espaciamiento de frecuencia de 1,5 MHz (0,01 pm). La configuración de ruta común de nuestro sistema no sólo simplifica la habitual arquitectura de doble peine de EO (eliminando un brazo), sino que también proporciona una gran estabilidad en tiempos de adquisición de varios cientos de milisegundos. Además, la diferencia en el espacio de línea entre los dos peines, que determina la máxima velocidad de medición, puede sintonizarse en tres órdenes de magnitud (de 200 Hz a 100 kHz)

El trabajo es una colaboración entre el Instituto de Óptica, el Departamento de Electrónica de la Universidad de Alcalá, Department of Electronic Engineering de la Universidad Técnica Federico Santa María de Valparaíso y el GROC-UJI Institute of New Imaging Technologies de la Universidad Jaume I de Castellón

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