INSTITUTO DE OPTICA  
Español | English

Realizado un estudio en el que se mejora la exactitud del sistema de medida de la reflectancia bidireccional  
Realizado un estudio en el que se mejora la exactitud del sistema de medida de la reflectancia bidireccional
El laboratorio de Fotometría, Radiometría y Fibras Ópticas del Instituto de Óptica ha realizado un estudio en el que se mejora la exactitud del sistema de medida de la reflectancia bidireccional (cómo la luz se refleja en una superficie)

A fin de mejorar la medición de la reflectancia de los materiales, los institutos nacionales de metrología y otros centros de investigación han desarrollado en los últimos años complejos goniospectrofotómetros basados en robots para medir la reflectancia bidireccional de las superficies con las mínimas restricciones geométricas posibles.

Al medir la función de distribución de la reflectancia bidireccional (BRDF) de materiales característicos, no se suele tener en cuenta el efecto de la polarización de la fuente de luz usada en la medición o la dependencia del detector de la polarización, aunque muchos estudios han demostrado su repercusión en la incertidumbre de la BRDF de la mayoría de los materiales, incluyendo los patrones altamente difusores utilizados para la medición de la reflectancia difusa.

El objetivo principal de este trabajo fue evaluar los efectos relacionados con la polarización en la medición del BRDF y proporcionar un nuevo enfoque para tener en cuenta los errores sistemáticos que genera. Este enfoque se ensayó experimentalmente en cuatro materiales típicos para la realización de patrones de reflectancia difusa (baldosa cerámica, sulfato de bario, Spectralon y vidrio opalino ruso).

En estos experimentos se ha calculado el error sistemático relativo debido a las condiciones de polarización, como una combinación de los coeficientes que cuantifican el efecto del instrumento y de los coeficientes que cuantifican el efecto de la propia superficie a caracterizar, y se ha probado el impacto de la nueva metodología propuesta en la incertidumbre de la medida obtenida.

Con estos datos, se ha propuesto una metodología para este tipo de medición que permite estimar el error sistemático relativo debido a las condiciones de polarización a partir de los coeficientes relacionados con la superficie a caracterizar y con el instrumento.
Más información en Scopus
 
Instituto de Óptica "Daza de Valdés"
(IO-CSIC)
C/ Serrano, 121
28006 Madrid (España)
Tel: 915 616 800 / Fax: 915 645 557
Consejo Superior de Investigaciones Científicas
(C.S.I.C.)
C/ Serrano, 117
28006 Madrid (España)
Tel.: 915 855 000 / Fax: 914 113 077
WEB:www.csic.es
FSE - EJ