Comparación clave CIPM CCPR-K1.a.2017 para irradiancia espectral de 250 nm a 2500 nm. Informe final
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La irradiancia espectral es la magnitud utilizada para describir la potencia radiante que se recibe por unidad de superficie.
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El IO-CSIC actúa como laboratorio de referencia español para estos patrones.
Madrid / 20 de octubre de 2023
En cada país hay un organismo encargado de actuar como referencia de cada magnitud, y la comparación de estos centros nacionales entre sí es uno de los pilares para que los resultados de medida sean consistentes independientemente del país en que se hayan realizado, reduciendo así las potenciales barreras técnicas al comercio y a la investigación científica.
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En este artículo se ha publicado un informe en el que se describe los resultados de una comparación internacional de la irradiancia espectral medida.
En la comparación se ha evaluado y establecido la equivalencia de los patrones de medición utilizados por institutos nacionales de metrología (INM) de todo el mundo.
El estudio se centró en la medida de la irradiancia espectral, es decir, la distribución de potencia radiante recibida en una superficie en función de la longitud de onda, en un rango que abarca desde 250 nm hasta 2500 nm. Para ello, se utilizaron lámparas de tungsteno con halógeno en bulbo de cuarzo como fuentes de luz. Doce Institutos Nacionales de Metrología participaron en la comparación, utilizando sus propios juegos de lámparas.
![LamaparaHalogenaTipoFEL Bombilla halógena con dos pines abajo y una espiral dentro, la marca está tapada](https://www.io.csic.es/wp-content/uploads/2023/10/LamaparaHalogenaTipoFEL.jpg)
Los resultados revelaron una mejora significativa en las mediciones presentadas por los participantes en comparación con la comparación anterior. Esto demuestra los avances tecnológicos y el compromiso de la comunidad científica en la mejora continua de la metrología óptica.
Además, se logró una alta coherencia en la mayoría de las longitudes de onda medidas, lo que indica la precisión y fiabilidad de los patrones utilizados. Sin embargo, se identificaron algunos desafíos en el rango infrarrojo, donde las comprobaciones de consistencia no se cumplieron en algunas longitudes de onda.
En general, este estudio demuestra los avances y logros en la metrología óptica, una disciplina esencial para una amplia gama de aplicaciones científicas y tecnológicas. La mejora en los patrones de medición y las comparaciones clave contribuyen a garantizar la confianza y la precisión en la medición de la radiación electromagnética entre distintos países.
En este estudio han participado los siguientes organismos y centros de investigación:
All-Russian Research Institute for Optical and Physical Measurement (VNIIOFI
Korea Research Institute of Standards and Science (KRISS)
Laboratoire Commun de Métrologie LNE-CNAM (Francia)
National Institute of Metrology (NIM) (China)
National Institute of Standards and Technology (NIST) (EEUU)
National Metrology Centre, ASTAR (Singapore)
National Measurement Institute of Australia (NMIA)
National Metrology Institute of Japan AIST (NMIJ)
National Physical Laboratory (NPL) (United Kingdom)
National Research Council Canada (NRC)
Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB) (Germany)
Comunicación IO-CSIC
cultura.io@io.cfmac.csic.es
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