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Measuring the reflectance and the internal quantum efficiency of silicon and InGaAs/InP photodiodes in near infrared range  
Año de Publicación:    2008
Referencia:    Zurita, A.L.M., Acosta, J.C., Shcherbakov, A.S., Aglio, A.P. “Measuring the reflectance and the internal quantum efficiency of silicon and InGaAs/InP photodiodes in near infrared range”. Proceedings of SPIE (2008), 6890.
Revista:    Proceedings of SPIE (2008)
 
Investigación financiada por el Ministerio de Ciencia e Innovación y la Agencia Estatal de Investigación
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